Combination of X-ray diffraction and electron microscopy for real structure investigations on luminescent oxonitridosilicates, nitridogallates and other nitride compounds
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Combination of X-ray diffraction and electron microscopy for real structure investigations on luminescent oxonitridosilicates, nitridogallates and other nitride compounds
Combination of X-ray diffraction and electron microscopy for real structure investigations on luminescent oxonitridosilicates, nitridogallates and other nitride compounds
Von:
Markus Armin Seibald
Jahr:
2013
Umfang:
IV, 209 S.
Illustrationsangabe:
Ill., graph. Darst.
Hochschulschrift :
München, Univ., Diss., 2013
BV-Nummer:
BV041762822
Andere Ausgabe:
Erscheint auch als
Andere Ausgabe:
Online-Ausgabe
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