Autor: | Engelbrecht, Stefan Gerhard |
Titel: | Terahertz-Charakterisierung des elektronischen Transportes in einkristallinen und polykristallinen Halbleitern |
Von: | Stefan Gerhard Engelbrecht |
Ort: | München |
Jahr: | 2015 |
Umfang: | XV, 166 Seiten |
Illustrationsangabe: | Illustrationen, Diagramme |
Hochschulschrift : | Dissertation, Ludwig-Maximilians-Universität München, 2015 |
BV-Nummer: | BV043588060 |
Andere Ausgabe: | Erscheint auch als |
Andere Ausgabe: | Online-Ausgabe |