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Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen

Online Katalog der Universitätsbibliothek der LMU München (1/1)

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Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen

Autor: Kloft, Stephan
Ort, Verlag, Jahr: München, , 2020
Umfang: vii, 142 Blätter

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Autor:Kloft, Stephan
Titel:Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen
Von:Stephan Kloft
Ort:München
Jahr:2020
Umfang:vii, 142 Blätter
Illustrationsangabe:Illustrationen, Diagramme
Hochschulschrift :Dissertation, München, Ludwig-Maximilians-Universität, 2020
BV-Nummer:BV047228953